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Präzises Mikroskop für höchstauflösende Bilder und Analysen
inDas neuartige Rasterelektronenmikroskop kommt im Labor für Werkstoffprüfung an der FH Bielefeld in der Materialforschung zum Einsatz Bielefeld. Zwei Nanometer – das ist in etwa der Durchmesser einer DNA-Doppelhelix und entspricht der Auflösung, die mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) bei Metallen maximal erreicht werden kann. An der Fachhochschule (FH) Bielefeld ist diese höchstauflösende Darstellung nun im […]